0512-65681381
產品簡介
MATS-3000S聯眾軟磁材料測量儀鐵氧1、探頭加入空氣磁通補償線圈，結果更準確 2、磁通正弦，消除諧波影響; 不含銅損，鐵損測量真實 3、適合各種形狀和尺寸的單片測量 4、定 B(磁感)測量 Ps（鐵損） 5、三個 Bm 測試點自由設定 6、手工繪制 Ps(B)損耗曲線
MATS-3000S聯眾軟磁材料測量儀鐵氧
一、簡介
ATS-101M硅鋼片鐵損測量儀適用于硅鋼片、電機、變壓器等生產廠家對產品品質的管控，原料以及沖壓成形的單片均可檢測。儀器讀數直觀，操作簡易，只需將測頭覆蓋測試樣片即可讀得Ps值（W/KG）。
產品特性：
1、探頭加入空氣磁通補償線圈，結果更準確
2、磁通正弦，消除諧波影響; 不含銅損，鐵損測量真實
3、適合各種形狀和尺寸的單片測量
4、定 B(磁感)測量 Ps（鐵損）
5、三個 Bm 測試點自由設定 6、手工繪制 Ps(B)損耗曲線
參照國標GB/T13789-92中的測量方法設計而成，采用單片機控制技術和A/D、D/A相結合，內置正弦波勵磁電源。各種厚度的冷軋取向、無取向和熱軋的硅鋼片等亦均可使用。
測試項目
測試樣品種類：可測試非晶/納米晶、硅鋼、坡莫合金和軟磁鐵氧體等軟磁材料;
測試樣品形狀：直接在樣品上繞制勵磁（N1）和感應（N2）線圈測量環(huán)形、矩形、EE形、EI形和U形等閉路樣品;
采用愛潑斯坦方圈測量30mm?300mm硅鋼片的比總損耗Ps、磁極化強度Jm、磁場強度Hm、比視在功率Ss、振幅磁導率， 以及交流磁化曲線和損耗曲線;
可訂制非標磁磁導計測量特定尺寸的硅鋼片在頻率為50Hz和60Hz下的比總損耗Ps、磁極化強度Jm、磁場強度Hm、比視在功率Ss、振幅磁導率， 以及交流磁化曲線和損耗曲線;
可定制鐵芯測試工裝測量特定尺寸的電機定子鐵芯和非晶卷繞鐵芯等軟磁樣品及磁性器件的比總損耗Ps、磁極化強度Jm、磁場強度Hm、比視在功率Ss、振幅磁導率， 以及交流磁化曲線和損耗曲線;
MATS-3000S聯眾軟磁材料測量儀鐵氧技術參數
1、硬件參數
1.1、MATS-3000M硅鋼材料測量裝置
| 型號 | MATS-3010M/10k | MATS-3010M/20k | |
| 輸出功率 | 500VA正弦波 | 500VA正弦波 | |
| 頻率范圍 | 45Hz～10kHz | 45Hz～20kHz | |
| 頻率細度 | 1Hz | 1Hz | |
| 輸出電壓 | A型 | 0～2V～10V～50V～150V 四檔自動量程，用于環(huán)形試樣測試； | |
| B型 | 0～10V～50V～150V～300V四檔自動量程，用于愛潑斯坦方圈樣品測試； | ||
| 輸出電流 | 0～10A | 0～10A | |
| 測量模式 | 支持全頻段鎖定磁感和鎖定磁場測量 | ||
| 保護功能 | 過熱、過流、過壓和參數保護 | ||
1.2、PC-6684數據采集卡
| 參數 | 技術指標 |
| 采樣速率 | 40MHz×2通道 |
| 分辨率和線性度 | 12Bit±1/2LSB |
| 電壓量程 | ±1V（滿量程） |
| 采樣時標 | 25ns～800ns硬件時標 |
| 內存容量 | 512kByte×2 |
系統參數
1.使用環(huán)境
| 參數 | 技術指標 |
| 輸入電源 | 單相220V，50Hz |
| 使用環(huán)境 | 環(huán)境溫度：23±5℃；環(huán)境濕度：30～75%RH |
| 外磁場干擾 | 應避免 |
| 熱平衡時間 | 10分鐘 |
2、系統技術指標
2.1、依據***GB/T 3655-2008，在50Hz、60Hz頻率下，使用25cm愛潑斯坦方圈測量30×300的硅鋼標樣，技術指標如下：
| 被測參數 | Ps(%) | Hrms(%) | Bm(%) | Hm(%) | |
| 不確定度(k=2) | 1 | 2 | 1 | 2 | |
| 重復性(恒溫) | ± 0.5 | ± 1 | ± 0.5 | ± 1 | |
| 備注 | 1.鎖B測試晶粒無取向硅鋼片Bm：1.5T；測試晶粒取向硅鋼片Bm：1.7T。 2.鎖H測試晶粒無取向硅鋼片Hm：1000A/m;測試晶粒取向硅鋼片Hm：500A/m。 | ||||
2.2、依據***GB/T 3658-2008，在20Hz～2kHz頻率下，測量坡莫合金環(huán)形試樣，技術指標如下：
| 被測參數 | Ps(%) | μa(%) | δ(%) | Bm(%) | Hm(%) |
| 不確定度(k=2) | 3 | 2 | —— | 1 | 1 |
| 重復性(恒溫) | ± 1.5 | ± 1 | ± 1 | ± 0.5 | ± 0.5 |
| 備注 | 1.試樣應為薄壁環(huán)，外徑/內徑≤1.25。 2.測試前應先退磁，退磁場頻率≤測試頻率。 3.不確定度為“-"，表示***中不要求。 | ||||
2.3、依據***GB/T 19346.1-2017，測量非晶環(huán)形試樣，技術指標如下：
| 被測參數 | Ps(%) | μa(%) | Ss(%) | Bm(%) | Hm(%) |
| 不確定度(k=2) | 3 | 3 | 3 | 1 | 1 |
| 重復性(恒溫) | ± 1.5 | ± 1.5 | ± 1.5 | ± 0.5 | ± 0.5 |
| 備注 | 1.試樣應為薄壁環(huán)，外徑/內徑≤1.25。 2.測試前應先退磁，退磁場頻率≤測試頻率。 3.不確定度為“-"，表示***中不要求。 | ||||
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