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產(chǎn)品中心涂層檢測(cè)儀器及測(cè)厚儀德國(guó)EPKMiniTest 1100德國(guó)EPK精密涂鍍層測(cè)厚儀圖MiniTest 1100 探頭可選配
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
德國(guó)EPK精密涂鍍層測(cè)厚儀圖MiniTest 1100 探頭可選配EPK涂層測(cè)厚儀 膜厚儀 蘇州特約總經(jīng)銷：
產(chǎn)品分類
德國(guó)EPK精密涂鍍層測(cè)厚儀圖MiniTest 1100 探頭可選配
產(chǎn)品特點(diǎn)： 德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司一直致力于開發(fā)和生產(chǎn)各種用于表面處理行業(yè)的精密測(cè)量?jī)x器。作為無損涂層厚度測(cè)量領(lǐng)域的，EPK公司與各標(biāo)準(zhǔn)化組織和研究院一道，成功地推進(jìn)了涂層厚度測(cè)量在世界范圍內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)化進(jìn)程。大量的技術(shù)與成果表明EPK公司是該生產(chǎn)領(lǐng)域的*。
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技術(shù)參數(shù)
|
涂層鍍層厚度測(cè)量
Coating thickness measurement
用于測(cè)量以下覆層（覆層包括涂層，鍍層等）：
· 鋼鐵基體上的非磁性覆層
· 有色金屬上的絕緣覆層
· 絕緣基體上的有色金屬覆層
可選用測(cè)頭的技術(shù)數(shù)據(jù)
MINITEST 統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
.讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值 x,s,n,max,min,kvar ●
.讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值 x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk ● ●
.組統(tǒng)計(jì)值六種 x,x,n,max,min,kvar ●
.組統(tǒng)計(jì)值八種 x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk ● ●
.存儲(chǔ)顯示每一應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) ●
.分組打印以上顯示和存儲(chǔ)得數(shù)據(jù)、統(tǒng)計(jì)值 ● ●
.顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間 ● ● ●
MINITEST 校準(zhǔn)方法
.透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)（CTC） ● ● ●
.在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn) ● ● ● ●
.利用 PC 機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn) ● ● ● ●
.補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)（OFFSET） ● ●
.外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能 ● ● ●
.保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值 ● ● ● ●
.更換電池時(shí)存儲(chǔ)讀值 ● ● ● ●
.設(shè)置極限值 ● ●
.公英制轉(zhuǎn)換 ● ● ● ●
.連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量，通過模擬柱識(shí)別zui大zui小值 ● ●
.連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀值 ● ● ● ●
.浮點(diǎn)或定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送 ● ● ● ●
.無需連接測(cè)頭即可讀數(shù)值 ● ● ●
.組內(nèi)單值延遲顯示 ● ● ●
.連續(xù)測(cè)量模式中顯示zui小值 ● ● ● ●
電源：1X9V堿性電池或外接電源
電池壽命：10000 次測(cè)量
工作環(huán)境溫度：主機(jī) 0-50℃，測(cè)頭-10℃-70℃，暫時(shí)工作可達(dá) 120℃
主機(jī)尺寸/重量：150mmx82mmx35mm/270 克
*另有耐高溫測(cè)頭
適用標(biāo)準(zhǔn)：
DIN50891，50982，50984，ISO2178，2360，BS5411，ASTM B 499，B244-CE ISO
德國(guó)EPK涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100可選探頭參數(shù)：
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的
形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
探頭 | 量程 | 低端 | 誤差 | zui小曲率半徑 | zui小測(cè)量 | zui小基 | 探頭尺寸 | |
磁 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%±0.7μm) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm |
F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | |
F2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | |
F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%±10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm | |
F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±10μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm | |
F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%±50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm | |
兩 | FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm |
FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 30mm | F0.5mm/N50μm | φ21x89mm | |
FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm | |
電 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%±0.5μm) | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm |
N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm | |
N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm | |
N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | |
N2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 50μm | φ15x62mm | |
N2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | |
N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%±25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm | |
N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm | |
N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%±0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm | |
CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 7mm | 無限制 | φ17x80mm |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
德國(guó)EPK涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest 1100/2100/3100/4100探頭
| FN1.6 0～1600μm,φ5mm 兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(O.1μm) | |
| FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 兩用測(cè)頭， 特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度 | |
| FN2 0～2000μm,φ5mm 兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層 | |
| F05 0～500μm,φ3mm 磁性測(cè)頭，適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等 量程低端分辨宰很高(O.1μm) | |
| F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性測(cè)頭 量程低端分辨率很高(O.1μm) | |
| F3 0～3000μm,φ5mm 磁性測(cè)頭 可用于較厚的覆層 | |
| F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性測(cè)頭 尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量 量程低端分辨率很高(O.1μm) | |
| F2/90 0～2000μm,φ5mm 90度磁性測(cè)頭 尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量 | |
| F10 0～10mm,φ20mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層， 如玻璃、塑膠、混凝土等 | |
| F20 0～20mm,φ40mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層， 如玻璃、塑膠、混凝土等 | |
| F50 0～50mm,φ300mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層 | |
| N02 0～200μm,φ2mm 非磁性測(cè)頭，尤其適合測(cè)量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(O.1μm) | |
| N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 適用于測(cè)量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層 | |
| N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(O.1μm) | |
| N2 0～2000μm,φ5mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 | |
| N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較薄的絕緣覆層 尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量 量程低端分辨率很高(O.1μm) | |
| N2/90 0～2000μm,φ5mm 磁性測(cè)頭， 尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量 | |
| N10 0～10mm,φ50mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 | |
| N20 0～20mm,φ70mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 | |
| N100 0～100mm,200mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 | |
| CN02 10～200μm,φ7mm 用于測(cè)量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板 |
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