型號	1100	2100	3100	4100
MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))	1	1	10	99
每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算，并可設(shè)寬容度極限值)		1		500
可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù)		1
數(shù)據(jù)總量		10000	10000	10000
MINITEST統(tǒng)計計算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar		√	√	√
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk			√	√
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar			√	√
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk			√	√
存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)				√
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值			√	√
顯示并打印測量值、打印的日期和時間		√	√	√
其他功能
設(shè)置極限值			√	√
連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別zui大zui小值			√	√
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)			√	√
連續(xù)測量模式中顯示zui小值			√	√

探頭		量程	低端分辨率	誤差	zui小曲率半徑 (凸/凹)	zui小測量區(qū)域直徑	zui小基體厚度	探頭尺寸
磁感應(yīng) 法	F05	0-500μm	0.1μm	±(1%±0.7μm)	1/5mm	3mm	0.2mm	φ15x62mm
	F1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170mm
	F2/90	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170mm
	F3	0-3000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F10	0-10mm	5μm	±(1%±10μm)	5/16mm	20mm	1mm	φ25x46mm
	F20	0-20mm	10μm	±(1%±10μm)	10/30mm	40mm	2mm	φ40x66mm
	F50	0-50mm	10μm	±(3%±50μm)	50/200mm	300mm	2mm	φ45x70mm
兩用	FN1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm/N50μm	φ15x62mm
	FN1.6P	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面	30mm	F0.5mm/N50μm	φ21x89mm
	FN2	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm/N50μm	φ15x62mm
電渦流法	N02	0-200μm	0.1μm	±(1%±0.5μm)	1/10mm	2mm	50μm	φ16x70mm
	N.08Cr	0-80μm	0.1μm	±(1%±1μm)	2.5mm	2mm	100μm	φ15x62mm
	N1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	2mm	50μm	φ15x62mm
	N1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x13x170mm
	N2	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	50μm	φ15x62mm
	N2/90	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x13x170mm
	N10	0-10mm	10μm	±(1%±25μm)	25/100mm	50mm	50μm	φ60x50mm
	N20	0-20mm	10μm	±(1%±50μm)	25/100mm	70mm	50μm	φ65x75mm
	N100	0-100mm	100μm	±(1%±0.3mm)	100mm/平面	200mm	50μm	φ126x155mm
	CN02	10-200μm	0.2μm	±(1%±1μm)	平面	7mm	無限制	φ17x80mm

	FN1.6 0～1600μm,φ5mm 兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層量程低端分辨率很高(O.1μm)
	FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 兩用測頭，特別適合測粉末狀的覆層厚度
	FN2 0～2000μm,φ5mm 兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層
	F05 0～500μm,φ3mm 磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等量程低端分辨宰很高(O.1μm)
	F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭量程低端分辨率很高(O.1μm)
	F3 0～3000μm,φ5mm 磁性測頭可用于較厚的覆層
	F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性測頭尤其適合于在管內(nèi)壁測量量程低端分辨率很高(O.1μm)
	F2/90 0～2000μm,φ5mm 90度磁性測頭尤其適合于在管內(nèi)壁測量
	F10 0～10mm,φ20mm 適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
	F20 0～20mm,φ40mm 適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
	F50 0～50mm,φ300mm 適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
	N02 0～200μm,φ2mm 非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層量程低端分辨率很高(O.1μm)
	N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
	N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層量程低端分辨率很高(O.1μm)
	N2 0～2000μm,φ5mm 非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
	N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層尤其適合在管內(nèi)壁測量量程低端分辨率很高(O.1μm)
	N2/90 0～2000μm,φ5mm 磁性測頭，尤其適合在管內(nèi)壁測量
	N10 0～10mm,φ50mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
	N20 0～20mm,φ70mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
	N100 0～100mm,200mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
	CN02 10～200μm,φ7mm 用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板

產(chǎn)品簡介
德國EPK 涂層測厚儀Minitest3100 蘇州特約店

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